Wyślij wiadomość
Dom > produkty > Mikrotester ohmowy > Analytyk parametrów półprzewodników podwójny procesor maksymalne napięcie 40V LCR 0,56ms 10 pojemników

Analytyk parametrów półprzewodników podwójny procesor maksymalne napięcie 40V LCR 0,56ms 10 pojemników

Kategoria:
Mikrotester ohmowy
Specyfikacje
Zastosowanie:
półprzewodnikowy
Analiza danych:
Analiza w czasie rzeczywistym
Przechowywanie danych:
Pamięć wewnętrzna
Transfer danych:
USB/Ethernet
Wymiary:
Kompaktowy
Wyświetlacz:
Wyświetlacz LCD
Interfejs:
USB/Ethernet
Zakres pomiaru:
Wysokie napięcie
Prędkość pomiaru:
Wysoka prędkość
Typ pomiaru:
CV
zasilacz:
AC/DC
Nazwa produktu:
Analizator CV dla półprzewodników
Bezpieczeństwo:
Certyfikat CE/UL
Oprogramowanie:
Windows/Mac OS
Waga:
Lekki
Podkreślić:

analizator parametrów półprzewodników

,

Analizator lcr

,

analizator półprzewodników

Wstęp

TH511 Półprzewodnikowy analizator CV: podwójny procesor, maks. napięcie ±40V, LCR 0,56 ms, 10 pojemników

  1. Zastosowanie w testowaniu i charakterystyce: Źródło prądu prądu prądu prądu prądu bieżącego znajduje szerokie zastosowanie w testowaniu i charakterystyce komponentów elektronicznych, takich jak tranzystory, diody,układy scaloneUmożliwia ocenę zachowania urządzenia w określonych warunkach stronniczości, ułatwiając pomiar parametrów takich jak zwiększenie, liniowość, prąd przecieku i napięcie progowe.Dodatkowo, jest stosowany w kalibracji urządzeń pomiarowych, zapewniając dokładne i identyfikowalne wyniki.

Naucz nas na YouTube.

Cechy

100,1-calowy, pojemnościowy ekran dotykowy, rozdzielczość 1280*800, system Linux

Architektura podwójnego procesora, najszybsza prędkość testu funkcji LCR wynosi 0,56 ms

Trzy metody badań: badanie miejscowe, skanowanie listy i skanowanie graficzne (opcjonalne)

Cztery parametry pasożytnicze (Ciss, Coss, Crss, Rg) są mierzone i wyświetlane na tym samym ekranie

Skanowanie krzywej CV, skan krzywej Ciss-Rg

Zintegrowana konstrukcja: LCR + źródło niskiego napięcia VGS + źródło wysokiego napięcia VDS + przełączanie kanału + PC

Standardowy 2-kanałowy test, który może testować dwa urządzenia lub urządzenia z podwójnym układem jednocześnie, kanał może być rozszerzony do 6, parametry kanału są przechowywane oddzielnie

Szybkie ładowanie, skraca czas ładowania kondensatora i umożliwia szybkie testowanie

Automatyczne ustawienie opóźnienia

Wysoki przesunięcie: VGS: 0 - ±40V, VDS: 0 - 200V/1500V/3000V

Sortyzowanie 10 pojemników

Wnioski

Składniki półprzewodnikowe/składniki mocy

Badanie pojemności pasożytniczej i analiza charakterystyki C-V diod, triod, MOSFET, IGBT, tirystorów, układów scalonych, układów optoelektronicznych itp.

Materiał półprzewodnikowy

Analiza charakterystyki płytki C-V

Materiał z ciekłych kryształów

Analiza stałej elastyczności

Element pojemnościowy

Badanie i analiza charakterystyki kondensatora C-V, badanie i analiza czujników pojemnościowych

 

 

Specyfikacje

Model TH511 TH512 TH513
Kanał 2 (4/6 Ch opcjonalnie) 2
Wyświetlacz Wyświetlacz 100,1-calowy pojemnościowy ekran dotykowy
Wskaźnik 0.672916667
Rozstrzygnięcie 1280*RGB*800
Parametry badań Ciss, Coss, Crss, Rg. Cztery parametry wybierane arbitralnie
Częstotliwość badań Zakres 1kHz-2MHz
Dokładność 0.0001
Rozstrzygnięcie 10mHz1.00000kHz-9.99999kHz
100mHz10,0000kHz-99,9999kHz
1Hz100.000kHz-999,999kHz
10Hz1.00000MHz-2.00000MHz
Poziom badania Zakres napięcia 5mVrms-2Vrms
Dokładność ± (10%*Wartość ustawiona+2mV)
Rozstrzygnięcie 1mVrms5mVrms-1Vrms
10mVrms1Vrms-2Vrms
Vgs Zakres 0 - ± 40 V
Dokładność 1%* Napięcie ustawione +8mV
Rozstrzygnięcie 1mV0V - ±10V
10mV10V - ±40V
WDS Zakres 0 - 200 V 0 - 1500 V 0 - 3000V
Dokładność 1%* Napięcie ustawione + 100 mV
Impedancja wyjściowa 100, ±2%@1kHz
Obliczanie Odchylenie bezwzględne od wartości nominalnej, odchylenie procentowe od wartości nominalnej w %
Funkcja kalibracyjna Otwarte, krótkie, ładowane
Średnia 1-255 razy
Czas konwersji AD (ms/czas) Szybki +: 0,56 ms (> 5 kHz), Szybki: 3,3 ms, Średni: 90 ms, Powolny: 220 ms.
Podstawowa dokładność 0.001
 
Wyślij zapytanie ofertowe
Magazyn:
MOQ: